Guardian-HD 系列在线近红外扫描分析仪已成为一种实用、通用且非侵入式的解决方案，可用于分析纸张基材上硅涂层的涂布量。

纸张基材硅涂层涂布量的在线测量
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KPM Analytics 提供坚固耐用的在线近红外 (NIR)、射频 (RF) 和红外 (IR) 技术，助力工业制造商实现生产过程中的质量控制。

工业过程控制的分析解决方案

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