Guardian-HD 卷材分析仪可用于控制加工过程，包括原材料特性分析、再加湿工位、涂布或干燥环节，从而有效降低成本并优化工艺效率。

纸张卷材水分与涂层测量
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KPM Analytics 提供坚固耐用的在线近红外 (NIR)、射频 (RF) 和红外 (IR) 技术，助力工业制造商实现生产过程中的质量控制。

工业过程控制的分析解决方案

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用于纸基材硅涂层的在线水分分析仪

纸张基材硅涂层涂布量的在线测量

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