KPM Analytics 推出专为食品加工设计的在线近红外（NIR）传感器

马萨诸塞州韦斯特伯勒 （2026年8月5日）—— 如今，越来越多的食品加工企业致力于实现“零缺陷”生产，力求在生产的各个阶段尽可能多地测量质量参数。为助力加工企业实现这一目标，KPM Analytics 宣布推出全新的 MCT700 系列近红外（NIR）传感器，可对水分、脂肪/油含量、颜色和产品温度进行连续在线测量。  

这些非接触式传感器可安装在传送带、螺旋输送机和溜槽上方，适用于监测烘焙和油炸零食、面团、饼干、早餐谷物、食品配料等产品。 

MCT790 近红外传感器，现已支持产品颜色测量

MCT790 近红外传感器可精确测量水分、脂肪/油含量、产品温度，现更增加了产品颜色测量功能。MCT790 传感器不仅能确保产品始终符合质量标准，还能提供实时数据，以便对烤箱和喷涂机等生产设备进行手动或自动调节，从而减少昂贵的浪费并提高生产效率。

MCT790 传感器适用于高温、油腻和潮湿等严苛的生产线环境。其不锈钢外壳达到 IP69K 防护等级，能够承受食品行业常见的强力清洁剂冲洗。传感器内部配有风扇，可实现有效的热管理。

通常安装在生产线旁边的坚固显示屏具备 IP67 防护等级。  

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MCT700 和 MCT750 近红外传感器

对于无需颜色测量的应用场景，KPM Analytics 同时推出了 MCT700 和 MCT750 在线近红外传感器。除颜色外，它们可测量与 MCT790 相同的参数。MCT700 具备 IP67 防护等级，配备标准 Kel-F 传感器窗口；MCT750 则具备 IP69K 防护等级，拥有先进的冷却功能和坚固的蓝宝石传感器窗口。  

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助力在线监测趋势

这些新型传感器顺应了食品加工业的新趋势，即利用在线实时测量和自动过程校正来取代人工定期取样及使用离线设备测量的方式。

此外，对于传送带应用，每台 MCT700 系列传感器均可集成到横移框架上，以扫描整个传送带宽度。该功能允许用户通过“移动并定位”特性分析各个产品通道，这对于拥有多个加热区的工业烤箱食品加工应用尤为有利。 

KPM Analytics 产品管理高级总监 Chris Pike 表示：“连续测量能够对生产问题做出快速响应，从而支持提高生产效率和减少浪费的业务目标。”

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传感器特性

所有新款机型均提供旨在简化集成并降低运营成本的功能。

• 高达每秒 100 次读数的高速测量。更快的测量速度有助于分析饼干和脆饼等分段产品。

• 与之前的 MCT 系列机型一样，它们操作简单，易于集成，并可在多条生产线上实现标准化，从而提高生产力和过程控制水平。

• 专有的温控检测器确保了测量稳定性。

• 完全模块化设计，所有组件均可在现场轻松更换。

• 先进的机载诊断功能，让故障排查更轻松。

订购与供货

MCT790、MCT750 和 MCT700 近红外传感器现已开放订购。如需了解价格或评估传感器在特定应用中的表现，请联系 KPM Analytics： https://kpmanalytics.com。

关于 KPM Analytics

KPM Analytics 是全球领先的科学仪器制造商，为食品、饲料、农业、工业和环境领域的实验室及工业运营商提供分析和视觉检测解决方案。KPM 产品拥有悠久的历史，通过可靠的解决方案、专业的应用知识和本地化服务，帮助企业确保产品质量、优化生产流程并做出基于数据的明智决策。请访问 https://www.kpmanalytics.com 了解更多信息。