深入探讨面粉加工行业的质量控制要求，以及利用快速近红外分析技术进行水分和成分检测的优势。

行业系列 - 近红外光谱技术在面粉加工中的应用
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Unity Scientific SpectraStar™ XT-F 小麦及面粉分析仪是一套完整的分析解决方案，适用于生产线旁或质量实验室，可对小麦、面粉及其副产品进行快速分析。

SpectraStar™ XT-F 小麦与面粉分析仪数据表

Data Sheet

结合近红外光谱（NIR）、流变分析和视觉检测技术，有助于烘焙商满足市场对高蛋白产品配方日益增长的需求。

利用互补技术应对高蛋白面粉的挑战

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传统上，烘焙师往往依赖面粉厂来把控产品所需的各项面粉质量指标，但烘焙师其实可以更主动一些，利用简单易用的仪器来做出更优的生产决策。

烘焙师必须掌控面粉质量（Snack Food & Wholesale Bakery）

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