在加工行业中,规格要求严苛,工艺上的细微变化都可能导致产品报废,从而给制造商带来巨大损失。因此,实时测量纸张、薄膜及卷材加工过程中的水分、涂层重量、胶水厚度和卷材温度至关重要。KPM 提供坚固耐用、经济可靠的非接触式、无损在线近红外(NIR)分析仪,可实现完整的卷材分区分析。
受成本、法规、标准化和维护等因素影响,测量方案正从核子测量等传统方式转向近红外(NIR)技术。应用 NIR 技术可加快启动速度,提高产量,减少废料,并支持按卷或按批次进行数据归档。