SpectraStar™ XT-F 专为制粉和烘焙行业设计，是一款即用型解决方案，助力面粉厂和烘焙企业检测小麦进料质量、监控调质过程、评估加工流程以确保最佳制粉条件、鉴定原材料等。
用于面粉、小麦及副产品精准分析的完整解决方案
好处
- 约 30 秒即可获得关键质量参数数据，实现快速质量控制响应
- 可分析纤维、糖分、脂肪酸、淀粉及其他复杂成分，以及水分、蛋白质和灰分
- 设计易于使用，常规操作人员仅需极少培训
- 先进的样品管理和报告功能，使分析仪可直接投入实验室使用
- 环保节能，无需危险化学品，无废弃物产生
特征
- 触摸屏界面
- 直观的图形化软件
- 结果不受操作人员影响
- 支持单次结果、历史记录或 SPC 图表视图
- 独立式设计，内置计算机，易于部署
- 密封外壳，非常适合面粉厂和原材料接收区等粉尘环境
- 可选配 KPMLink®，这是一款基于云的软件套件，支持实时远程配置产品设置、校准，并查看全球任何仪器的测试结果
应用程序
优化制粉工艺，把控烘焙原料质量
无论您是分析原料质量并支持相关声明、确保批次或连续加工条件，还是验证最终产品的质量、标签或规格声明，SpectraStar™ XT-F 近红外分析仪都能胜任。每台 SpectraStar™ XT-F 均为独立单元，外形小巧，可轻松放置在几乎任何质量实验室或生产环境中。
SpectraStar™ XT-F 近红外分析仪的用户利用该系统测量多种产品的质量参数，包括：
面粉、小麦及副产品
- 检测小麦进料质量
- 监控调质过程
- 评估加工流程以确保最佳制粉条件
- 监控灰分含量以优化提取率并提高产量
- 验证最终面粉质量
- 检测制粉副产品质量
产品阵容
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它是如何运作的
先进的样品管理与报告功能
系统组件
- SpectraStar™ XT-F 近红外分析仪，用于小麦、面粉及副产品的精准分析
- 内置 17 英寸触摸屏
- 搭载 Windows® 10 专业版系统及固态硬盘，轻松接入计算机网络
- UScan™ 软件
- 多功能样品杯适配器
- ISI 环形杯/粉末杯适配器
- TRUE ALIGNMENT Spectroscopy (TAS) 标准品
校准
校准
SpectraStar XT-F 分析仪套装配备了磨坊主和烘焙师所需的各类样品配件及校准程序。针对全麦颗粒，蛋白质和水分校准功能可确保进料小麦的质量并监控调质过程。针对成品面粉，水分、蛋白质、灰分以及吸水率和流变学参数的校准功能，能为磨坊主和烘焙师提供评估面粉整体质量所需的全面洞察。
此外，还提供针对单一产品类型的水分、蛋白质和/或油脂校准服务。联系我们获取可用产品列表。
软件
SpectraStar 分析仪由 UScan™ 软件套件驱动，该软件配备直观的图形界面和可靠的 SQL 数据库，可实现高效的数据管理。其设计旨在简化操作，常规操作人员仅需 15 分钟即可完成培训，从而获得准确且不受人为因素影响的检测结果。
SpectraStar 分析仪由 UScan™ 软件套件驱动，该软件配备直观的图形界面和可靠的 SQL 数据库，可实现高效的数据管理。其设计旨在简化操作，常规操作人员仅需 15 分钟即可完成培训，从而获得准确且不受人为因素影响的检测结果。
KPMLink：SpectraStar XT 系列分析仪的云端管理平台
KPMLink 可通过安全的云服务器，对所有类型的 SpectraStar XT 仪器实现闭环控制。它有助于标准化操作规程，并确保组织内的所有仪器均使用最新的校准数据，始终保持最佳运行状态。
KPMLink 用户可以：
- 加载并即时向网络中所有连接的 SpectraStar XT 分析仪分发校准数据、产品信息和扫描方法。
- 实时查看所有已注册 SpectraStar XT 分析仪的样本检测结果。
- 监控光源健康状况和 TAS 性能，确保仪器正常运行。
KPMLink：SpectraStar XT 系列分析仪的云端管理平台
KPMLink 可通过安全的云服务器，对所有类型的 SpectraStar XT 仪器实现闭环控制。它有助于标准化操作规程，并确保组织内的所有仪器均使用最新的校准数据，始终保持最佳运行状态。
KPMLink 用户可以：
- 加载并即时向网络中所有连接的 SpectraStar XT 分析仪分发校准数据、产品信息和扫描方法。
- 实时查看所有已注册 SpectraStar XT 分析仪的样本检测结果。
- 监控光源健康状况和 TAS 性能，确保仪器正常运行。
规格
资源
